光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x是一種非接觸式測(cè)量?jī)x器，一般會(huì)運(yùn)用在生產(chǎn)廠商生產(chǎn)產(chǎn)品的過(guò)程，由于誤差經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品全部報(bào)廢，這時(shí)候就需要運(yùn)用光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x來(lái)介入到生產(chǎn)環(huán)境，避免這種情況的發(fā)生。由于是光學(xué)測(cè)量，在測(cè)量時(shí)候無(wú)須擔(dān)心破壞樣品，讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。

　　光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x的優(yōu)點(diǎn)：

　　1.非接觸式測(cè)量

　　光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x采用的原理是通過(guò)光的反射原理對(duì)膜層厚度進(jìn)行測(cè)量，屬于非接觸式測(cè)量方法，不會(huì)對(duì)樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。

　　2.測(cè)量數(shù)據(jù)多樣

　　可以測(cè)得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點(diǎn)。

　　3.測(cè)量快速

　　光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x的測(cè)量過(guò)程非?？焖?，因?yàn)樵撛O(shè)備采用了的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠程度的提升測(cè)量效率，相比于其他類型膜厚測(cè)量設(shè)備來(lái)說(shuō)顯得非常輕巧方便。

　　4.適用范圍廣

　　光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實(shí)驗(yàn)室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍廣泛，能夠作業(yè)的場(chǎng)合也變得更加多樣化。

　　光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x主要應(yīng)用在：

　　半導(dǎo)體行業(yè)如：光刻膠的厚度測(cè)量；加工膜層的厚度測(cè)量，介電層的厚度測(cè)量等。

　　液晶顯示器行業(yè)如：OLED領(lǐng)域各種透明薄膜的厚度測(cè)量，玻璃上面涂層的厚度測(cè)量等

　　光學(xué)鍍層行業(yè)如：硬涂層，抗反射層等涂層厚度測(cè)量。

　　生物醫(yī)學(xué)行業(yè)如：聚對(duì)二甲苯，醫(yī)療器械等領(lǐng)域可透光涂層膜厚的測(cè)量。

　　光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x應(yīng)用領(lǐng)域廣闊，適用于多種行業(yè)以及大學(xué)實(shí)驗(yàn)室等，提供低至納米級(jí)別的薄膜厚度測(cè)量可能。

　　以上就是今天為大家?guī)?lái)關(guān)于光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x的相關(guān)科普介紹，供大家探討和參考！