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美國(guó)博曼K系列XRF高精度涂層測(cè)量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測(cè)量區(qū)域，適用于多種樣品檢測(cè)。

型號(hào)：K系列

更新日期：2024-11-13

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B系列是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號(hào)采用自上而下的測(cè)量方式。配備固定樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)操作。測(cè)量時(shí)將樣品放入樣品倉(cāng)，通過(guò)觀(guān)察視頻圖像來(lái)對(duì)準(zhǔn)屏幕上十字線(xiàn)內(nèi)的位置來(lái)完成測(cè)量。

型號(hào)：B系列

更新日期：2024-11-13

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借助F54-XYT-300薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供快速的厚度測(cè)量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線(xiàn)性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的不受限制的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。

型號(hào)：F54-XYT-300

更新日期：2024-07-24

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借助F54-XY-200薄膜厚度測(cè)量?jī)x光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線(xiàn)性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。

型號(hào)：F54-XY-200

更新日期：2024-07-24

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HORIBA 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀是新型的全自動(dòng)薄膜測(cè)量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動(dòng)測(cè)量和分析，并輸出分析報(bào)告。是用于快速薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。

型號(hào)：Auto SE

更新日期：2023-08-22

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HORIBA 智能型多功能橢偏儀，多功能性設(shè)計(jì)，配置靈活，具備多角度測(cè)量能力，可方便實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)與離線(xiàn)配置切換。是一款針對(duì)單層和多層薄膜進(jìn)行簡(jiǎn)單，快速，表征和分析的工具。

型號(hào)：Smart SE

更新日期：2023-06-06

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HORIBA 研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀是一種無(wú)損無(wú)接觸的光學(xué)測(cè)量技術(shù)，基于測(cè)量線(xiàn)偏振光經(jīng)過(guò)薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過(guò)模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等，可測(cè)厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測(cè)試材料的反射率及透過(guò)率。

型號(hào)：UVISEL Plus

更新日期：2023-06-06

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-Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x：F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤(pán)，加上附加的分光計(jì)，可達(dá)到四個(gè)不同的位置（EXR和UVX版本多兩個(gè)位置）。F32軟件可以通過(guò)數(shù)字I/O或主機(jī)軟件來(lái)控制啟動(dòng)/停止/復(fù)位測(cè)量。測(cè)量數(shù)據(jù)可以自動(dòng)導(dǎo)出到主機(jī)軟件中進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。

型號(hào)：F32

更新日期：2024-07-24

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