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Nanosurf AFM原子力顯微鏡產(chǎn)品主要特點(diǎn): 高起伏樣品或多個(gè)樣品自動(dòng)納米機(jī)械性能分析 針對(duì)不同模型來測(cè)量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度 智能軟件自主處理測(cè)量需求 樣品高度起伏大可達(dá)5mm，力譜曲線大范圍Z向可達(dá)100μm 分析軟件可用于大批量與復(fù)雜數(shù)據(jù)的輕松比對(duì)

型號(hào)：Flex-ANA

更新日期：2023-06-06

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Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡AFM產(chǎn)品主要特點(diǎn): 實(shí)時(shí)在您的真空環(huán)境中進(jìn)行AFM分析 方便集成在SEM中進(jìn)行相關(guān)AFM分析 兼容于大多數(shù)電鏡而不影響SEM正常操作 可適配真空腔室環(huán)境兼容大氣環(huán)境測(cè)量 操作簡(jiǎn)便而直觀

型號(hào)：AFSEM

更新日期：2023-07-24

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光學(xué)3d表面輪廓儀讓3D光學(xué)輪廓測(cè)量的價(jià)格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術(shù)。以很低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。

型號(hào)：Profilm3D

更新日期：2024-07-24

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光學(xué)輪廓儀廠家 支持3D量測(cè)和成像功能，并提供整合隔離工作臺(tái)和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color（真彩）無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。Zeta-388具備Multi-Mode（多模式）光學(xué)系統(tǒng)、簡(jiǎn)單易用的軟件、低擁有成本，以及SECS / GEM通信，適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。

型號(hào)：Zeta-388

更新日期：2024-07-24

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光學(xué)表面輪廓儀讓3D光學(xué)輪廓測(cè)量的價(jià)格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術(shù)。以低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。

型號(hào)：Profilm3D

更新日期：2024-07-24

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Profilm3D光學(xué)輪廓儀讓3D光學(xué)輪廓測(cè)量的價(jià)格變得更加能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術(shù)。以優(yōu)勢(shì)的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。

型號(hào)：Profilm3D

更新日期：2023-06-05

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P-170臺(tái)階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能，適用于生產(chǎn)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。 P-170具有的圖案識(shí)別算法、增強(qiáng)的光學(xué)系統(tǒng)和的平臺(tái)，這了性能的穩(wěn)定和系統(tǒng)間配方的無縫移植- 這是24x7生產(chǎn)環(huán)境的關(guān)鍵要求。

型號(hào)：P-170

更新日期：2023-07-24

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P-17臺(tái)階儀支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。

型號(hào)：P-17

更新日期：2023-07-24

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