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    型號:F54-XYT-300
    更新日期:2024-07-24
    面議
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    型號:F54-XY-200
    更新日期:2024-07-24
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  • F32-Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀

    -Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀:F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤,加上附加的分光計(jì),可達(dá)到四個不同的位置(EXR和UVX版本多兩個位置)。F32軟件可以通過數(shù)字I/O或主機(jī)軟件來控制啟動/停止/復(fù)位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動導(dǎo)出到主機(jī)軟件中進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件,以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。

    型號:F32
    更新日期:2024-07-24
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    -Filmetrics膜厚測量儀 F60-t 系列就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率,但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、自動基定、全封閉測量平臺、預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī),以及升級到全自動化晶圓傳輸?shù)臋C(jī)型。

    型號:F60
    更新日期:2023-06-05
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  • F54-Filmetrics膜厚測量儀

    -Filmetrics膜厚測量儀-F54系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米 可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點(diǎn).僅需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方

    型號:F54
    更新日期:2023-07-24
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    -Filmetrics光學(xué)薄膜厚度測量儀:依靠F50的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺,可以非??焖俚亩ㄎ凰铚y試的點(diǎn)并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。F50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺,確保能夠做成千上萬次測量。

    型號:F50
    更新日期:2023-06-05
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  • F40-Filmetrics膜厚測量儀

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    型號:F40
    更新日期:2023-06-05
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    -Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀:不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常熟,還是想要知道材料的反射率和透過率,F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?;谀衬K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn),F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用:

    型號:F20
    更新日期:2024-07-24
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