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  • 盤點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀的那些使用注意事項(xiàng)
    2022-1-26 601
    膜厚儀做為一種測量物體厚度的儀器,在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用,尤其是涂層測厚儀,擁有測量精度高,利用探頭接觸測量方式的優(yōu)點(diǎn)。光學(xué)膜厚測量儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。光學(xué)膜厚測量儀的使用注意事項(xiàng):1.零點(diǎn)校準(zhǔn)在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn),因?yàn)橹暗臏y量參數(shù)會(huì)影響該次對物體的測量,零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響,能夠降低測量的結(jié)果的誤差,使測量結(jié)果更加。2.基體厚度不宜過薄在使用...

  • XRF鍍層測厚儀的工作原理和影響測量因素
    2022-1-24 485
    XRF鍍層測厚儀主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。XRF鍍層測厚儀的測量工作原理:1、磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測量精度高(如:鐵等磁性材料)2、渦流測厚法:渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,測頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測厚法一樣,渦流測厚法也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程1...

  • XRF手持式合金分析儀的原理和主要特點(diǎn)有哪些?
    2021-12-24 512
    XRF手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中,材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制(QA/QC)是*的,混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。XRF手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗(yàn)、成品復(fù)檢的儀器。XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素,同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來,XRF度普術(shù)...

  • 光學(xué)膜厚測量儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)
    2021-11-23 545
    光學(xué)膜厚測量儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。使用光學(xué)膜厚測量儀的注意事項(xiàng)有以下三點(diǎn):一、注意保持試件表面的清潔和平整的光學(xué)膜厚測量儀是一個(gè)非常精密的儀器,如果我們要想我們的測量數(shù)據(jù)能夠保持的話,就要保持試件表面的清潔,及時(shí)的處理掉試件表面的附...

  • XRF手持式合金分析儀的優(yōu)勢主要以下三點(diǎn)
    2021-11-11 527
    XRF手持式合金分析儀是用于測量合金材料、金屬材料和其它材料的成分的,但你了解手持式合金分析儀還能用于測量鍍層厚度嗎?手持式合金光譜儀分析儀可測量金屬材料、塑膠、玻璃甚至是木料鍍層的厚度。優(yōu)勢一:超長的運(yùn)行時(shí)間,彌補(bǔ)野外勘測設(shè)備弊端XRF手持式合金分析儀運(yùn)行時(shí)間很長,設(shè)備耗電量較低,非常適合在實(shí)驗(yàn)室以外的場地進(jìn)行檢測,有效避免在檢測過程中電量不足導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)中斷的現(xiàn)象發(fā)生,彌補(bǔ)了大多數(shù)合金分析儀續(xù)航時(shí)間短這一共性缺陷。XRF手持式合金分析儀重量僅有1.54公斤,這一特性也讓它在野...

  • 使用XRF鍍層測厚儀要注意哪八點(diǎn)事項(xiàng)呢
    2021-10-23 516
    XRF鍍層測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析。基于微軟中文視窗系統(tǒng)的中文版應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對CMI主機(jī)的自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定。可同時(shí)測定多種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足特定分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對偏...

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